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芯片HAST高溫蒸煮試驗箱又稱為超加速壽命試驗機,用于調(diào)查分析何時出現(xiàn)電子元器件和機械零件的摩耗和使用壽命的問題的試驗設(shè)備，其目的是提高環(huán)境應(yīng)力與工作應(yīng)力、加快試驗過程縮短產(chǎn)品或系統(tǒng)的壽命試驗時間。廣泛用于 PCB、LCD Board、電池、電容、電阻、IC 半導體、連接器、線路板、磁性材料、高分子材料、EVA、光伏組件及其它電子零件之高溫、高濕、高壓等信賴性試驗等行業(yè)。

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集成電路 HAST加速老化試驗箱在電子元器件行業(yè)中具有重要的應(yīng)用價值。隨著電子產(chǎn)品的日益普及和更新?lián)Q代，人們對產(chǎn)品的可靠性和耐久性的要求也越來越高。因此，對電子元器件進行可靠性測試變得尤為重要。HAST老化試驗箱可以模擬產(chǎn)品在高溫高濕環(huán)境下的長期使用，幫助企業(yè)了解產(chǎn)品的性能和可靠性，并為產(chǎn)品的改進和優(yōu)化提供依據(jù)。

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印刷電路板HAST高壓蒸煮儀又稱為超加速壽命試驗機,用于調(diào)查分析何時出現(xiàn)電子元器件和機械零件的摩耗和使用壽命的問題的試驗設(shè)備，其目的是提高環(huán)境應(yīng)力與工作應(yīng)力、加快試驗過程縮短產(chǎn)品或系統(tǒng)的壽命試驗時間。廣泛用于 PCB、LCD Board、電池、電容、電阻、IC 半導體、連接器、線路板、磁性材料、高分子材料、EVA、光伏組件及其它電子零件之高溫、高濕、高壓等信賴性試驗等行業(yè)。