GB/T 12085《光學(xué)和光子學(xué)環(huán)境試驗(yàn)方法》

光學(xué)和光子學(xué)儀器廣泛應(yīng)用于國(guó)民經(jīng)濟(jì)及國(guó)際科技各個(gè)領(lǐng)域，由于其使用及運(yùn)輸環(huán)境條件非常復(fù)雜，有來(lái)自物理的、化學(xué)的、生物的、氣候的以及電氣的等各種環(huán)境條件的影響，都會(huì)使光學(xué)和光子學(xué)儀器的性能發(fā)生變化而不能正常發(fā)揮功能。

鑒于上述原因，為了保證光學(xué)和光子學(xué)儀器產(chǎn)品的質(zhì)量，需要模擬各種復(fù)雜的環(huán)境條件變化，對(duì)光學(xué)和光子學(xué)儀器產(chǎn)品進(jìn)行試驗(yàn)，考核其經(jīng)受?chē)?yán)酷環(huán)境條件的能力，因而GB/T12085包含了試驗(yàn)條件、條件試驗(yàn)、試驗(yàn)程序、環(huán)境試驗(yàn)標(biāo)記等條款。同時(shí)由于環(huán)境條件內(nèi)容較多且分屬不同的類(lèi)型，為了便于標(biāo)準(zhǔn)的貫徹，GB/T12085根據(jù)環(huán)境條件的類(lèi)型擬分為23個(gè)部分。

現(xiàn)行標(biāo)準(zhǔn)（21份，藍(lán)色字體標(biāo)準(zhǔn)，可直接點(diǎn)擊下載）

GB/T 12085.1-2010光學(xué)和光學(xué)儀器 環(huán)境試驗(yàn)方法 第1部分：術(shù)語(yǔ)、試驗(yàn)范圍

GB/T 12085.2-2010光學(xué)和光學(xué)儀器 環(huán)境試驗(yàn)方法 第2部分：低溫、高溫、濕熱

GB/T 12085.3-2010光學(xué)和光學(xué)儀器 環(huán)境試驗(yàn)方法 第3部分：機(jī)械作用力

GB/T 12085.4-2010光學(xué)和光學(xué)儀器 環(huán)境試驗(yàn)方法 第4部分：鹽霧

GB/T 12085.5-2010光學(xué)和光學(xué)儀器 環(huán)境試驗(yàn)方法 第5部分：低溫、低氣壓綜合試驗(yàn)

GB/T 12085.6-2010光學(xué)和光學(xué)儀器 環(huán)境試驗(yàn)方法 第6部分：砂塵

GB/T 12085.7-2010光學(xué)和光學(xué)儀器 環(huán)境試驗(yàn)方法 第7部分：滴水、淋雨

GB/T 12085.8-2010光學(xué)和光學(xué)儀器 環(huán)境試驗(yàn)方法 第8部分：高壓、低壓、浸沒(méi)

GB/T 12085.9-2010光學(xué)和光學(xué)儀器 環(huán)境試驗(yàn)方法 第9部分：太陽(yáng)輻射

GB/T 12085.10-2010光學(xué)和光學(xué)儀器 環(huán)境試驗(yàn)方法 第10部分：振動(dòng)(正弦)與高溫、低溫綜合試驗(yàn)

GB/T 12085.11-2010光學(xué)和光學(xué)儀器 環(huán)境試驗(yàn)方法 第11部分：長(zhǎng)霉

GB/T 12085.12-2010光學(xué)和光學(xué)儀器 環(huán)境試驗(yàn)方法 第12部分：污染

GB/T 12085.13-2010光學(xué)和光學(xué)儀器 環(huán)境試驗(yàn)方法 第13部分：沖擊、碰撞或自由跌落與高溫、低溫綜合試驗(yàn)

GB/T 12085.14-2010光學(xué)和光學(xué)儀器 環(huán)境試驗(yàn)方法 第14部分：露、霜、冰

GB/T 12085.15-2010光學(xué)和光學(xué)儀器 環(huán)境試驗(yàn)方法 第15部分：寬帶隨機(jī)振動(dòng)(數(shù)字控制)與高溫、低溫綜合試驗(yàn)

GB/T 12085.16-2010光學(xué)和光學(xué)儀器 環(huán)境試驗(yàn)方法 第16部分：彈跳或恒加速度與高溫、低溫綜合試驗(yàn)

GB/T 12085.17-2011光學(xué)和光學(xué)儀器 環(huán)境試驗(yàn)方法 第17部分 污染、太陽(yáng)輻射綜合試驗(yàn)

GB/T 12085.18-2011光學(xué)和光學(xué)儀器 環(huán)境試驗(yàn)方法 第18部分：濕熱、低內(nèi)壓綜合試驗(yàn)

GB/T 12085.19-2011光學(xué)和光學(xué)儀器 環(huán)境試驗(yàn)方法 第19部分：溫度周期與正弦振動(dòng)、隨機(jī)振動(dòng)綜合試驗(yàn)

GB/T 12085.20-2011光學(xué)和光學(xué)儀器 環(huán)境試驗(yàn)方法 第20部分：含二氧化硫、硫化氫的濕空氣

GB/T 12085.21-2011光學(xué)和光學(xué)儀器 環(huán)境試驗(yàn)方法 第21部分：低壓與大氣溫度、高溫綜合試驗(yàn)

2023年即將實(shí)施：（15份，藍(lán)色字體標(biāo)準(zhǔn)，可直接點(diǎn)擊下載）

GB/T 12085.1-2022光學(xué)和光子學(xué) 環(huán)境試驗(yàn)方法 第1部分：術(shù)語(yǔ)、試驗(yàn)范圍

GB/T 12085.2-2022光學(xué)和光子學(xué) 環(huán)境試驗(yàn)方法 第2部分：低溫、高溫、濕熱

GB/T 12085.3-2022光學(xué)和光子學(xué) 環(huán)境試驗(yàn)方法 第3部分：機(jī)械作用力

GB/T 12085.4-2022光學(xué)和光子學(xué) 環(huán)境試驗(yàn)方法 第4部分：鹽霧

GB/T 12085.6-2022光學(xué)和光子學(xué) 環(huán)境試驗(yàn)方法 第6部分：砂塵

GB/T 12085.7-2022光學(xué)和光子學(xué) 環(huán)境試驗(yàn)方法 第7部分：滴水、淋雨

GB/T 12085.8-2022光學(xué)和光子學(xué) 環(huán)境試驗(yàn)方法 第8部分：高內(nèi)壓、低內(nèi)壓、浸沒(méi)

GB/T 12085.9-2022光學(xué)和光子學(xué) 環(huán)境試驗(yàn)方法 第9部分：太陽(yáng)輻射與風(fēng)化

GB/T 12085.11-2022光學(xué)和光子學(xué) 環(huán)境試驗(yàn)方法 第11部分：長(zhǎng)霉

GB/T 12085.12-2022光學(xué)和光子學(xué) 環(huán)境試驗(yàn)方法 第12部分：污染

GB/T 12085.14-2022光學(xué)和光子學(xué) 環(huán)境試驗(yàn)方法 第14部分：露、霜、冰

GB/T 12085.17-2022光學(xué)和光子學(xué) 環(huán)境試驗(yàn)方法 第17部分：污染、太陽(yáng)輻射綜合試驗(yàn)

GB/T 12085.20-2022光學(xué)和光子學(xué) 環(huán)境試驗(yàn)方法 第20部分:含二氧化硫、硫化氫的濕空氣

GB/T 12085.22-2022光學(xué)和光子學(xué) 環(huán)境試驗(yàn)方法 第22部分: 低溫、高溫或溫度變化與碰撞或隨機(jī)振動(dòng)綜合試驗(yàn)

GB/T 12085.23-2022光學(xué)和光子學(xué) 環(huán)境試驗(yàn)方法 第23部分：低壓與低溫、大氣溫度、高溫或濕熱綜合試驗(yàn)